| YIG调谐器件漏磁特性仿真分析 |
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| 引用本文： | 蓝江河,刘进.YIG调谐器件漏磁特性仿真分析[J].磁性材料及器件,2013(5):67-69. |
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| 作者姓名： | 蓝江河 刘进 |
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| 作者单位： | 西南应用磁学研究所,四川绵阳,621000 |
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| 摘 要： | YIG调谐器件在现代电子对抗系统中应用广泛,但针对YIG调谐器件的漏磁特性缺乏定量分析。通过对YIG调谐器件的漏磁特性建模及仿真,特别是针对测试样品射频连接器区域磁场仿真和漏磁测量,得到其漏磁分布曲线,实现了YIG调谐器件的漏磁定量分析,为YIG调谐器件工程应用中抗漏磁干扰设计提供了依据。此外,该研究对于有效降低YIG调谐器件的漏磁干扰,提高整机系统技术指标和改善工作性能有着一定的指导意义。
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| 关 键 词： | YIG调谐器件 漏磁 仿真分析 |
Simulation analysis on flux leakage of YIG-tuned device |
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| LAN Jiang-he
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LIU Jin.Simulation analysis on flux leakage of YIG-tuned device[J].Journal of Magnetic Materials and Devices,2013(5):67-69. |
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| Authors: | LAN Jiang-he LIU Jin |
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| Affiliation: | LAN Jiang-he;LIU Jin;Southwest Institute of Applied Magnetics; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | YIG-tuned device flux leakage simulation |
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