| 电压检测芯片失效分析 |
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| 引用本文： | 袁保玉,侯旎璐,李进. 电压检测芯片失效分析[J]. 电子产品可靠性与环境试验, 2017, 35(4). DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.04.009 |
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| 作者姓名： | 袁保玉 侯旎璐 李进 |
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| 作者单位： | 1. 工业和信息化部电子第五研究所, 广东 广州 510610;宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司, 浙江 宁波 315040;2. 工业和信息化部电子第五研究所, 广东 广州 510610;工业和信息化部电子第五研究所华东分所, 江苏 苏州 215011 |
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| 摘 要： | 近年来,随着智能电表的广泛使用,其质量和可靠性问题受到了人们越来越多的关注.但是,由于各种原因,产品投入市场后仍会出现各种失效现象.因此,对某智能电表的电压检测芯片的失效现象进行了分析,通过外观检查、 电参数测试和X-射线测试等手段找到了该芯片的失效原因,并针对发现的问题提出了相应的改进意见.
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| 关 键 词： | 智能电表 电压检测芯片 失效分析 外观检查 电参数测试 |
Failure Analysis of Voltage Detection Chip |
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| YUAN Baoyu,HOU Nilu,LI Jin. Failure Analysis of Voltage Detection Chip[J]. Electronic Product Reliability and Environmental Testing, 2017, 35(4). DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.04.009 |
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| Authors: | YUAN Baoyu HOU Nilu LI Jin |
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