|
|||||
|
|
| 关于矿浆载流X荧光分析仪的物理模型 | |
| 引用本文： | 刘凤翘,李忠义.关于矿浆载流X荧光分析仪的物理模型[J].金属矿山,1985(9). |
| 作者姓名： | 刘凤翘 李忠义 |
| 作者单位： | 北京矿冶研究总院，北京矿冶研究总院 |
| 摘 要： | 由矿浆载流X荧光分析仪探测到的是X射线的辐射强度,它以脉冲计数来表示。这些脉冲计数表明了一次X射线在该波长上的背景辐射和元素特征辐射的总和,而辐射波长取决于被分析的矿浆中各个元素的原子序数。因此,只探测被测元素的特征辐射就难以准确地 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |