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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁材料中10种微量元素
引用本文:侯列奇,李洁,王树安,廖志海,费浩. 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁材料中10种微量元素[J]. 冶金分析, 2008, 28(1): 1-1
作者姓名:侯列奇  李洁  王树安  廖志海  费浩
作者单位:中国核动力研究设计院核燃料及材料国家重点实验室,中国核动力研究设计院核燃料及材料国家重点实验室,中国核动力研究设计院核燃料及材料国家重点实验室,中国核动力研究设计院核燃料及材料国家重点实验室,中国核动力研究设计院核燃料及材料国家重点实验室 四川成都610005,四川成都610005,四川成都610005,四川成都610005,四川成都610005
摘    要:样品用硝酸、盐酸和氢氟酸溶解,氢氟酸除硅后,电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定硅铁材料中Al,Ca,Co,Cr,Cu,Mg,Mn,Ni,Ti和V 10种微量元素。结果表明,经除硅后,铁对待测元素基体效应不显著。在选定的条件下,测定范围在10~6 400μg/g之间,方法标准加入回收率在93.8%~101.0%之间,相对标准偏差为2.5%~8.4%(n=6),本方法对硅铁标准样品进行测定,结果同认定值相符。

关 键 词:电感耦合等离子体原子发射光谱  硅铁  微量元素  
文章编号:1000-7571(2008)01-0052-03
收稿时间:2006-05-16
修稿时间:2006-05-16

Determination of 10 elements in silicon-iron material by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
HOU Lie-qi,LI Jie,WANG Shu-an,LIAO Zhi-hai,FEI Hao. Determination of 10 elements in silicon-iron material by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry[J]. Metallurgical Analysis, 2008, 28(1): 1-1
Authors:HOU Lie-qi  LI Jie  WANG Shu-an  LIAO Zhi-hai  FEI Hao
Abstract:
Keywords:inductively coupled plasma atomic emission spectrometry   silicon-iron material   trace elements
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