MIC总线控制器中存储器的可测性设计

MIC总线控制器远程模块专用集成电路内部嵌入的存储器采用了存储器内建自测试技术（Memory Built—in—Self Test，MBIST），以此增加测试的覆盖率，同时MBIST还具有故障自动诊断功能，方便了对宏模块的故障定位和产生针对性测试向量。本文将介绍用于嵌入式存储器设计的MBIST技术，并结合MIC总线控制器远程模块专用集成电路对存储器的可测性设计（DFT）进行阐述。