硅上异质外延氧化铝的X射线测试分析 |
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作者姓名: | 咎育德 郑文莉 等 |
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作者单位: | [1]中国科学院半导体研究所,北京912信箱100083 [2]中国科学院高能物理所,北京918信箱100039 |
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摘 要: | 高剂量X射线粉末衍射测试说明升高温度有利于γ-Al2O3/Si外延生长,单晶衍射法证明应用低压CVD和高真空外延技术在我们的实验室生长出γ-Al2O3/Siuj单晶薄膜。它们的结晶关系是(100)γ-Al2O3//Si,[010]γ-Al2O3//[010]Si。
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关 键 词: | 硅 异质外延 氧化铝 X射线 测试 半导体 外延生长 |
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