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| 应用AVO研究推断薄层 | |
| 作者姓名： | C.Juhlin R.Young 薛刚 |
| 摘 要： | 引言 应用振幅随偏移距的变化(AVO)或振幅随入射角的变化(AVA)分析地震反射资料在勘探工业界和地壳科学研究领域已变得日益流行。在勘探工业中,AVO分析特别适用于探测和绘制含气带,含气砂岩具有低泊松比,而其上覆页岩层具有高泊松比;如果含气砂岩层阻抗比上覆页岩层阻抗低,那么,反射系数随偏移距或入射角增加而增大;其它岩石类型的组合也可能产生类似的振幅加大特征(例如:灰岩上覆页岩);在大多数情况下,反射系数的极性为正,因此,如果能断定反射为正极性,且反射波绝对振幅随偏移距增加,则极有可能识别出含气带。与地震波波长相比,当反射层厚度超过波长时,可认为层顶面的反射和层底面的反射相互独 |
| 关 键 词： | AVO技术 薄层 波阻抗 含气层 |
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