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红外焦平面阵列性能参数测试平台
引用本文:肖静, 周昊, 何兆湘, 陈四海, 易新建. 红外焦平面阵列性能参数测试平台[J]. 红外技术, 2004, 26(5): 75-79. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020
作者姓名:肖静  周昊  何兆湘  陈四海  易新建
作者单位:华中科技大学光电子工程系,湖北,武汉,430074;华中科技大学光电子工程系,湖北,武汉,430074;华中科技大学光电子工程系,湖北,武汉,430074;华中科技大学光电子工程系,湖北,武汉,430074;华中科技大学光电子工程系,湖北,武汉,430074
摘    要:分析了红外焦平面阵列器件性能参数测试平台的要求,建立了包括红外源及IRFPA模块、控制模块和信号放大、采集、处理模块在内的测试系统,可用来进行响应率、探测率、噪声等效功率、噪声等效温差等红外焦平面阵列性能参数的测试.用此参数测试平台来测试160×120红外焦平面阵列,经软件分析处理测试数据,证明该测试平台是准确有效的.最后对红外焦平面阵列性能参数测试平台的进一步优化提出了要求.

关 键 词:红外焦平面阵列  参数测试平台  数据分析处理软件  无效像元
文章编号:1001-8891(2004)05-0075-05

A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays
A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays[J]. Infrared Technology , 2004, 26(5): 75-79. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020
Authors:XIAO Jing  ZHOU Hao  HE Zhao-Xiang  CHEN Si-Hai  YI Xin-Jian
Abstract:
Keywords:IRFPA  test bench for parameters  analyzing and processing software of parameters  non-effective pixels
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