| 电沉积CdTe半导体薄膜中Cd和Te含量的极谱分析 |
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| 引用本文： | 郭也平,邓薰南,张红青. 电沉积CdTe半导体薄膜中Cd和Te含量的极谱分析[J]. 材料研究学报, 1991, 5(6): 494-497 |
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| 作者姓名： | 郭也平 邓薰南 张红青 |
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| 作者单位： | 上海科学技术大学技术大学化学系(郭也平)，上海科学技术大学(邓薰南)，上海科学技术大学(张红青) |
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| 摘 要： | 用极谱法分析电沉积 CdTe 半导体薄膜中 Cd 和 Te 的含量随电沉积电位、沉积温度和热处理温度的变化,获得 Cd 和 Te 原子数之比几乎为1∶1的 CdTe 薄膜。热处理能改变 CdTe 薄膜的导电类型。
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| 关 键 词： | 极谱分析 CdTe 薄膜 电沉积 |
| 收稿时间： | 1991-12-25 |
| 修稿时间： | 1991-12-25 |
POLAROGRAPHIC DETERMINATION OF Cd AND Te IN ELECTRODEPOSITED CdTe THIN FILMS |
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| GUO Yeping DENG Xunnan ZHANG Hongqing. POLAROGRAPHIC DETERMINATION OF Cd AND Te IN ELECTRODEPOSITED CdTe THIN FILMS[J]. Chinese Journal of Materials Research, 1991, 5(6): 494-497 |
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| Authors: | GUO Yeping DENG Xunnan ZHANG Hongqing |
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| Affiliation: | Shanghai University of Science and Technology |
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| Abstract: | The variations on composition of electrodeposited CdTe thin films withcathodic potentials,electrolyte temperatures and heat treatment temperatures were studiedby using polarographic method.The CdTe thin films where the Cd/Te atomic ratio equalunity was ob |
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| Keywords: | polarographic analysis CdTe thin films electrodeposit |
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