| 基于双向射线追踪的损耗介质目标散射计算 |
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| 引用本文： | 郑浩,叶红霞,徐丰. 基于双向射线追踪的损耗介质目标散射计算[J]. 电波科学学报, 2015, 0(5): 896-902. DOI: 10.13443/j.cjors.2014102601 |
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| 作者姓名： | 郑浩 叶红霞 徐丰 |
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| 作者单位： | 复旦大学电磁波信息教育部重点实验室,上海,200433 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，教育部科技支撑基金 |
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| 摘 要： | 双向解析射线追踪(Bi-directional Analytical Ray Tracing,BART)算法从发射端和接收端同时追踪电磁波射线在导体表面的弹跳过程,并用解析的三角形表征射线束的横向尺寸,极大地提高了电大尺寸导体目标的电磁散射计算速度.将此算法进一步推广,发展了扩展型双向解析射线追踪(Extended BART,E-BART)算法,并应用于电大尺寸、有耗介质目标的高频电磁散射计算.针对介质面元,E-BART算法需同时考虑反射射线和透射射线的追踪过程,并计算物理光学(Physical Optics,PO)和几何光学(Geometry Optics,GO)散射参数.损耗介质的射线传播过程满足复Snell定理,传播方向由等相面确定,衰减方向由等幅面确定.考虑到损耗介质内部的格林函数与空气的格林函数不一致,提出了PO/GO近似变换的思想来计算相应的散射场.与商业FEKO软件的计算结果对比,证明了E-BART算法的准确性和高效性,并分析了几种典型目标的散射特性.
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| 关 键 词： | 射线追踪 损耗介质 高频电磁计算 |
Extended bi-directional analytical ray tracing algorithm for lossy dielectric object |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ray tracing lossy medium high-frequency electromagnetic computation |
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