一种用于X射线工业检测的多通道电荷读出IC |
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引用本文: | 王旭,杨洪艳,袁颖,吴武臣.一种用于X射线工业检测的多通道电荷读出IC[J].微电子学,2014(1). |
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作者姓名: | 王旭 杨洪艳 袁颖 吴武臣 |
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作者单位: | 北京工业大学VLSI与系统研究室;北京地太科特电子技术有限公司; |
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基金项目: | 国家自然科学基金资助项目“低功耗集成多级放大器的设计研究”(60976028) |
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摘 要: | 介绍了一种用于X射线工业检测的多通道电荷读出IC。该电荷读出IC可提供64个通道,将探测器电荷转换成模拟电压。电路由电荷放大器增益控制、增益电容阵列、时序发生器、移位寄存器链、电荷放大器阵列和采样保持放大器等组成,具有低噪声、14位动态范围等特性。电路芯片采用0.8μm标准CMOS工艺制造,芯片尺寸为3.1mm×10.9mm。电路在3.3MHz频率、5V电源电压和3.5V参考电压下工作,电路功耗为45mW。测试结果表明,在电荷放大器增益电容为0.5pF和光电二极管结电容为33pF下,电路的输出噪声达到600μV(Vrms)。
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关 键 词: | 多通道电荷读出集成电路 低噪声 动态范围 X射线工业检测 |
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