| 可编程逻辑器件亚稳态的分析与测试 |
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| 引用本文： | 许新新,赵雷,华熹曦,郭琦,霍林,李惠军. 可编程逻辑器件亚稳态的分析与测试[J]. 电子质量, 2006, 29(2): 3-6 |
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| 作者姓名： | 许新新 赵雷 华熹曦 郭琦 霍林 李惠军 |
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| 作者单位： | 山东大学信息科学与工程学院,济南,250100 |
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| 摘 要： | 随着可编程逻辑器件(PLD)的功能日益强大,工作频率不断提高.由于片上多时钟域系统的集成,使得异步信号数量增加,由此带来了所谓的亚稳态(metastab]e)问题.亚稳态问题对器件的可靠性将造成严重影响.基于PLD器件亚稳态的成因与机理,本文提出一种简便、可靠的PLD器件亚稳态性能的测试方案.
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| 关 键 词： | 亚稳态 平均无故障时间 测试 可编程逻辑器件 |
| 文章编号： | 1003-0107（2006）02-0003-03 |
Metastability of PLDs in Analysis and Test |
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| Xu Xin-xin,Zhao Lei,Hua Xi-xi,Guo Qi,Huo Lin,Li Hui-jun. Metastability of PLDs in Analysis and Test[J]. Electronics Quality, 2006, 29(2): 3-6 |
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| Authors: | Xu Xin-xin Zhao Lei Hua Xi-xi Guo Qi Huo Lin Li Hui-jun |
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| Affiliation: | School of Information Science and Engineering Shandong University, Jinan 250100, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Metastability MTBF Test PLD |
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