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光热辐射测量对薄层材料的无损检测
引用本文:
周根元,李佩赞.光热辐射测量对薄层材料的无损检测[J].无损探伤,1995(2):45-47.
作者姓名:
周根元
李佩赞
摘 要:
本文简要介绍了光热辐射测量技术对薄层复合材料检测的原理,并探测了胶合材料的粘结状态及单层样品的表面缺陷。用振幅和位相二个可测因子同时测量,提高了探测的可靠性。
关 键 词:
光热辐射测量
无损检验
薄层材料
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