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光热辐射测量对薄层材料的无损检测
引用本文:周根元,李佩赞.光热辐射测量对薄层材料的无损检测[J].无损探伤,1995(2):45-47.
作者姓名:周根元  李佩赞
摘    要:本文简要介绍了光热辐射测量技术对薄层复合材料检测的原理,并探测了胶合材料的粘结状态及单层样品的表面缺陷。用振幅和位相二个可测因子同时测量,提高了探测的可靠性。

关 键 词:光热辐射测量  无损检验  薄层材料
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