首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

纳米级大尺度超精密线位移测量方法的研究
引用本文:赵惠英,蒋庄德,田世杰.纳米级大尺度超精密线位移测量方法的研究[J].计量学报,2004,25(3):215-218.
作者姓名:赵惠英  蒋庄德  田世杰
作者单位:西安交通大学精密工程研究所,陕西,西安,710049
摘    要:在研究纳米级超精密机床的检测过程中,针对机床的加工要求,提出了纳米级大尺度超精密线位移误差的检测采用宏微线位移测量方法,并应用于超精密机床的检测。检测结果表明,该方法可以利用现有精密测量仪器满足检测超精密机床的要求。

关 键 词:计量学  纳米级  超精密  大尺度  宏微线位移检测
文章编号:1000-1158(2004)03-0215-04
修稿时间:2003年8月21日

Research of Large-scale Measuring Method for Some Nano-scale Ultra-precision Positioning
ZHAO Hui-ying,JIANG Zhuang-de,TIAN Shi-jie.Research of Large-scale Measuring Method for Some Nano-scale Ultra-precision Positioning[J].Acta Metrologica Sinica,2004,25(3):215-218.
Authors:ZHAO Hui-ying  JIANG Zhuang-de  TIAN Shi-jie
Abstract:In study on checking the nano-scale ultra-precision machine tool, a macro-micro linear displacement error checking(MMLEC) for large-scale ultra-precision machine is presented, which has been used in the check on ultra-precision machine tool. The checking results showed that the MMLEC can meet the requirements of ultra-precision measurement by use of current precision measuring instruments.
Keywords:Metrology  Nano-scale  Ultra-precision  Large-scale  Macro-micro linear error checking (MMLEC)
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号