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| 基于主从式架构的光强度检测系统 | |
| 作者单位： | ;1.佛山科学技术学院光信息工程系 |
| 摘 要： | 描述了一种基于主从式架构,从机基于STM32F107的32位微处理器实现光强度数据采集,主机应用C#编程语言实现数据处理的光强度检测系统。该系统在主机端采用串口通信类库,实现程序对光强板、程控电源、PLC的控制和数据接收。主机程序的核心功能还包括光强标定和二次校准,修正硬件因素和外界条件存在的误差。系统对接收到的数据做优化处理并转换为需要的格式,样品测试的曲线分别在极坐标、直角坐标和数据列表中显示,便于数据分析。该系统可广泛应用于光源与照明领域。 |
| 关 键 词： | C# 光强检测 STM32F107微处理器 主从式架构 |
Light-intensity measurement system based on host-slave architecture |
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| Keywords: | |