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| 电容型试品介质损耗变化的原因与分析 | |
| 引用本文： | 黎洪昌,叶振捷.电容型试品介质损耗变化的原因与分析[J].电瓷避雷器,2001(4):7-12. |
| 作者姓名： | 黎洪昌 叶振捷 |
| 作者单位： | 1. 广东南海电力局, 2. 广东清远电力局, |
| 摘 要： | 对电流互感器、电压互感器和电容式套管等电容型试品在不同电压、不同温度条件下一次对末屏介质损耗的试验结果进行了分析 ,根据 tanδ值变化情况可以判断其绝缘缺陷 |
| 关 键 词： | 电容型试品 介质损耗 试验 |
| 文章编号： | 1003-8337(2001)04-0007-06 |
Analysis on Cause of Variation of Dielectric of Polymeric Insulator |
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