| 基于IEEE 1149.4标准的混合电路测试系统设计 |
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| 引用本文： | 陈圣俭,张胜满,周燕,陈健.基于IEEE 1149.4标准的混合电路测试系统设计[J].计算机测量与控制,2009,17(9):1673-1675. |
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| 作者姓名： | 陈圣俭 张胜满 周燕 陈健 |
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| 作者单位： | 1. 装甲兵工程学院,控制工程系,北京,100072
2. 装甲兵工程学院,控制工程系,北京,100072;北京军区66396部队,山西,长治,046000 |
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| 摘 要： | 随着电子技术的迅速发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。为解决数模混合信号系统的测试难题,在IEEE 1149.4标准的基础上,设计了一个数模混合电路测试系统方案,系统能够实现混合电路的互连测试与参数测试,通过74BCT8373与STA400芯片对系统的测试功能进行了验证。实验结果表明,该系统测试简单,测量准确。该测试系统的研究设计为下一步进行混合电子系统机内测试设计奠定了基础。
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| 关 键 词： | IEEE 1149.4 混合电路 机内测试 |
Design of Mixed-signal Circuit Test System Based on IEEE1149.4 Standard |
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| Chen Shengjian,Zhang Shengman,Zhou Yan,Chen Jian.Design of Mixed-signal Circuit Test System Based on IEEE1149.4 Standard[J].Computer Measurement & Control,2009,17(9):1673-1675. |
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| Authors: | Chen Shengjian Zhang Shengman Zhou Yan Chen Jian |
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| Affiliation: | 1.Academy of armored forces engineering,Beijing 100072,China; 2.66396 army in Beijing Military Area,Changzhi 046000,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | IEEE 1149 4 |
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