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| 氧化锌压敏电阻的研究及发展过程(二) | |
| 作者姓名： | 郝怀远 |
| 摘 要： | 然而仍有未解决的问题存在,典型的例子就是晶界层的作用问题,尚搞不清为什么Bi_2O_3晶相可强烈的影响到由于负荷引起的下降。 2.微观结构和形成机理: 关于烧结体的晶相分析、微观结构与形成机理也是改进ZnO压敏电阻电性能的重要问题,并有许多关于这些问题的分析文章。 1969年发表了第一篇报告,指出了关于含有Bi_2O_3和其它添加物而呈现高非线性的ZnO陶瓷,这是因为微观结构的特殊性是由添加物在晶界层的偏析形成了具有第二晶相的缘故。但是,对这些添加物在晶界层的微观结构、晶相和存在状态的详细情况还未搞清楚。在1973年采用先进的刻蚀技术,直接得 |
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