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| 温度修正的单模光纤宏弯损耗特性理论分析 | |
| 作者姓名： | 孙云鹏 舒畅 林海涛 |
| 作者单位： | 海军工程大学 电子工程学院,武汉 430000 |
| 摘 要： | 为了研究单模光纤宏弯损耗特性与温度变化的关系,文章根据Faustini L提出的理论公式进行了热光效应和热膨胀效应修正,基于该公式对温度影响下的纤芯—包层—无限涂覆层结构SMF28和1060 XP单模光纤宏弯损耗分别进行了仿真分析,探究了温度、波长和弯曲半径等因素对单模光纤宏弯损耗特性的影响,并得到两种单模光纤与温度之... |
| 关 键 词： | 单模光纤 宏弯损耗 纤芯-包层-无限涂覆层 温度传感器 |
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