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数字集成电路测试系统逻辑测试单元分析
作者姓名:赵龙
作者单位:上海集成电路设计研究中心测试部200001
摘    要:本文简要分析了数字集成电路测试系统中的逻辑测试单元。

关 键 词:数字集成电路  测试系统  逻辑测试单元
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