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测量系统R&R分析评述
引用本文:彭力 刘志弘. 测量系统R&R分析评述[J]. 电子与封装, 2005, 5(10): 21-23
作者姓名:彭力 刘志弘
作者单位:[1]中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035 [2]清华大学微电子学研究所,北京100084
摘    要:本文评述测量的重复性和再现性(R&R)分析。详细介绍了R&R 分析的统计方法和关键点。还介绍了R&R 分析方法的优点和缺点。

关 键 词:测量系统  重复性  再现性  评述
文章编号:1681-1070(2005)10-21-03
收稿时间:2005-09-02
修稿时间:2005-09-02

A Comment on R & R for Measuring System
Peng Li Liu Zhi-hong. A Comment on R & R for Measuring System[J]. Electronics & Packaging, 2005, 5(10): 21-23
Authors:Peng Li Liu Zhi-hong
Affiliation:1.The 58^th Institute of China Electronics Technology Group Corporation WuXi Jiangsu , China 214035 ; 2. Institute of Microelectronics , Tsing Hua University, Beijing 100084, China
Abstract:A comment on repeatability and reproducibility(R & R)for measuring system has been done in this paper.The statistical method and key points of R & R have been presented in details.Their advantages and shortages have also been presented.
Keywords:Measuring system   Repeatability   Reproducibility   Comment
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