首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

MEMS圆片级真空封装金硅键合工艺研究
引用本文:张卓,汪学方,王宇哲,刘川,刘胜.MEMS圆片级真空封装金硅键合工艺研究[J].电子与封装,2011,11(1):1-4.
作者姓名:张卓  汪学方  王宇哲  刘川  刘胜
作者单位:华中科技大学机械科学与工程学院;华中科技大学光电国家实验室;华中科技大学能源与动力工程学院;
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)课题:长寿命MEMS圆片级真空封装技术的研究(编号:2008AA04Z30711)
摘    要:提出一种适用于微机电系统(MEMS)圆片级真空封装的键合结构,通过比较分析各种键合工艺的优缺点后,选择符合本试验要求的金硅键合工艺.根据所提出键合结构和金硅键合的特点设计键合工艺流程,在多次试验后优化工艺条件.在此工艺条件下,选用三组不同结构参数完成键合试验.之后对比不同的结构参数分别测试其键合质量(包括键合腔体泄漏率...

关 键 词:MEMS  真空封装  金硅键合  圆片级

Study on Au-Si Bonding of Wafer Level MEMS Vacuum Packaging
ZHANG Zhuo,WANG Xue-fang,WANG Yu-zhe,LIU Chuan,LIU Sheng.Study on Au-Si Bonding of Wafer Level MEMS Vacuum Packaging[J].Electronics & Packaging,2011,11(1):1-4.
Authors:ZHANG Zhuo  WANG Xue-fang  WANG Yu-zhe  LIU Chuan  LIU Sheng
Affiliation:ZHANG Zhuo,WANG Xue-fang,WANG Yu-zhe,LIU Chuan,LIU Sheng(Huazhong University of Science and Technology,Wuhan 430074,China)
Abstract:A new kind bonding structure that applicable to MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)wafer level vacuum packaging had been reported,Au-Si bonding which meets the requirements is selected by analysing the merits and demerits of all kinds of bonding processes.The bonding process condition are designed by the structure that put forward and characteristics of Au-Si bonding,and optimized by plenty of tests.In this bonding process condition,different bonding experiments are completed under 3 different structure ...
Keywords:MEMS  vacuum packaging  Au-Si bonding  wafer level  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号