| 偏振干涉法测量晶体应力双折射精度分析 |
| |
| 引用本文： | 肖昊苏,张运强,范志刚,李福巍,潘国庆. 偏振干涉法测量晶体应力双折射精度分析[J]. 红外与激光工程, 2011, 40(2): 271-276 |
| |
| 作者姓名： | 肖昊苏 张运强 范志刚 李福巍 潘国庆 |
| |
| 作者单位： | 1. 哈尔滨工业大学,空间光学工程研究中心,黑龙江,哈尔滨,150001
2. 中国空空导弹研究院,河南,洛阳,471009 |
| |
| 基金项目： | 航空科学基金实验室类(01)资助项目 |
| |
| 摘 要： | 为实现晶体材料应力双折射精确测量,提出了一种以偏振干涉法为基础的测量方法,采用楔形样品避免了样品厚度可能引起的测量错误.利用椭圆偏振光理论和琼斯矩阵,推导了检偏器旋转定位精度、四分之一波片相位偏差和待测样品方位角误差对测量结果--最小可探测光程差所引入误差的解析表达式.误差分析结果表明:检偏器旋转定位精度引入的光程差测...
|
| 关 键 词： | 测量 应力双折射 偏振干涉法 精度分析 |
Precision analysis of polarization interference method for measuring stress birefringence of crystal |
| |
| Xiao Haosu,Zhang Yunqiang,Fan Zhigang,Li Fuwei,Pan Guoqing. Precision analysis of polarization interference method for measuring stress birefringence of crystal[J]. Infrared and Laser Engineering, 2011, 40(2): 271-276 |
| |
| Authors: | Xiao Haosu Zhang Yunqiang Fan Zhigang Li Fuwei Pan Guoqing |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
