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模拟电路可测试性分析模型建立
引用本文:王翔,周恒军,李波. 模拟电路可测试性分析模型建立[J]. 电子测量技术, 2007, 30(8): 34-36,40
作者姓名:王翔  周恒军  李波
作者单位:海军航空工程学院,烟台,264001;海军航空工程学院,烟台,264001;海军航空工程学院,烟台,264001
摘    要:对机载电子设备做可测试性分析是设计ATS的第一步,只有这样才不会在设计过程中无谓地浪费测试资源.本文通过建立各种不同故障类型模拟电路的可测试性分析模型,论述了利用DES理论建立模拟电路可测试性分析模型的基本方法.对模型分析得到的故障隔离率与实际值相吻合.用DES理论建立的模拟电路可测试性分析模型可以与数字、数模混合电路模型在统一的框架中进行可测试性分析,对电路可测试性分析起到一定的作用.

关 键 词:DES  可测试性  模型

Establish the testability models for analog circuits
Wang Xiang,Zhou Hengjun,Li Bo. Establish the testability models for analog circuits[J]. Electronic Measurement Technology, 2007, 30(8): 34-36,40
Authors:Wang Xiang  Zhou Hengjun  Li Bo
Affiliation:Naval Aviation Engineering College, Yantai 264001
Abstract:Before designing an ATS,its testability must be analyzed firstly,or the waste in the resources will take place.Through establishing the testability model for several analog circuits,the paper illustrates the application of DES theory in getting the analog circuits' testability models.The result form model is consistent with the data which is got in experiments.With the testability models,the testability of analog circuits,digital circuits and mixed-signal circuits can be analyzed in a unified frame system.In conclusion,the model plays an important role in circuits' testability analysis.
Keywords:DES
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