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| 基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系 | |
| 作者姓名： | 邓文广 许叶潞 温建辉 黄碧钦 金昌连 |
| 摘 要： | 残像是影响液晶显示器(LCD)面板品质的重要因素,残像的不良改善已成为面板工厂持续性研究课题.残像程度与杂质离子的含量正相关,为了实现对低温多晶硅(LTPS)LCD盒内杂质离子含量的监控,本文系统地对LTPS-LCD面板测试盒测量体系进行了研究,并对该测量体系的稳定性、分辨能力进行了探讨.首先针对LTPS技术的面板设计... |
| 关 键 词： | 残像 电压保持率 LTPS-LCD 测试盒 杂质离子 |