| 现场视察Xe的分离测量技术 |
| |
| 引用本文： | 王红侠,卞直上,李伟. 现场视察Xe的分离测量技术[J]. 中国核科技报告, 2006, 0(2) |
| |
| 作者姓名： | 王红侠 卞直上 李伟 |
| |
| 作者单位： | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所，中国工程物理研究院核物理与化学研究所，中国工程物理研究院核物理与化学研究所 绵阳，621900，绵阳，621900，绵阳，621900 |
| |
| 摘 要： | 根据全面禁止核试验条约组织临时技术秘书处(PTS)对放射性核素Xe的现场视察技术要求,开展了现场视察Xe的取样分离测量技术研究,建立了Xe的分离纯化流程。流程的采样量为10m3,Xe的提取产额大于90%。采用高纯锗γ谱仪,测量24h,133Xe的最小探测浓度为0·053Bq/m3。
|
| 关 键 词： | 现场视察 Xe 分离纯化 流程 |
Techinique of On-site Inspection Xenon Separation and Measurement(In Chinese) |
| |
| WANG Hongxia BIAN Zhishang LI Wei. Techinique of On-site Inspection Xenon Separation and Measurement(In Chinese)[J]. China Nuclear Science and Technology Report, 2006, 0(2) |
| |
| Authors: | WANG Hongxia BIAN Zhishang LI Wei |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | Xenon On-site inspection Separation and purification Process |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
|
