| E5AX系列温控仪试验台的研制 |
| |
| 引用本文： | 曾亚波,潘迪夫.E5AX系列温控仪试验台的研制[J].工业仪表与自动化装置,2004(2):63-65. |
| |
| 作者姓名： | 曾亚波 潘迪夫 |
| |
| 作者单位： | 中南大学交通运输工程学院,湖南长沙,410075 |
| |
| 摘 要： | 详细介绍了一种新颖的温控仪测试方法——Pt100的单片机阻抗模拟法，和基于此法的系统硬件和软件设计。与传统的测试装置相比，该设计大大简化了装置结构、降低了装置成本，可缩短测试时间。
|
| 关 键 词： | 温控仪 试验台 研制 单片机 阻抗模拟法 显示识别 |
| 文章编号： | 1000-0682(2004)02-0063-03 |
| 修稿时间： | 2003年3月31日 |
The development of a testing device for the E5AX series temperature controller |
| |
| ZENG Ya-bo,PAN Di-fu.The development of a testing device for the E5AX series temperature controller[J].Industrial Instrumentation & Automation,2004(2):63-65. |
| |
| Authors: | ZENG Ya-bo PAN Di-fu |
| |
| Abstract: | This paper gives an account of an novel method for testing temperature controller,i.e.RTD's simulation method based on MCU,and discusses its hardware and software design.Compared with a traditional testing device,this method can simplify the hardware structure,bring down cost and reduce testing time greatly. |
| |
| Keywords: | Testing device Impedance simulation MCU Identification display RS-232 communication |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
