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AlGaN/GaN HEMT器件的低频噪声测试方法研究

作者单位：	国家半导体器件质量监督检验中心,河北石家庄050051;中电科技集团电子可靠性工程技术有限公司,北京100083

摘要：
关键词：	AlGaN/GaN HEMT器件低频噪声测试可靠性
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