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现代离子注入机的机械扫描技术
引用本文:吴尚德.现代离子注入机的机械扫描技术[J].现代机械,2007(3):69-71.
作者姓名:吴尚德
作者单位:湘潭大学,机械工程学院,湖南,湘潭,411105
摘    要:简单介绍了典型离子注入机的组成,分析了离子注入机中扫描技术的重要性。随着集成电路工艺技术的提高,对离子注入提出更高的要求,传统的批注入已不能满足当前的工艺,从而开发出了适应当前工艺的单晶片注入的机械扫描技术。这种注入技术解决了技术上的难题,也很好地控制了成本风险,同时具有更高精度、更少污染等一系列优点,成为当前高端离子注入机机械扫描技术的首选。本文对国内外技术进行了对比,对国内离子注入机机械扫描技术的发展进行了展望。

关 键 词:离子注入机  机械扫描  批注入  单晶片注入  平行离子束
文章编号:1002-6886(2007)03-0069-03
修稿时间:2006-11-03

Mechanical Scanning Technology of Ion Implanter
WU Shang-de.Mechanical Scanning Technology of Ion Implanter[J].Modern Machinery,2007(3):69-71.
Authors:WU Shang-de
Affiliation:WU Shang-de
Abstract:Introduced the configuration of typical ion implanter,analyzed the importance of the implantation mechanical scanning technology.Along with the development of integrated circuit,the traditional batch implantation has already can't satisfy a current process,the single wafer implantation with the mechanical scanning solved the technique problem,also controlling the cost risk,having a series of advantage of higher accuracy,less contamination etc,becoming the current high level ion implanter the best choice.Contrast to the domestic and international technique in addition,and provide a outlook for the domestic ion implanter mechanical scanning technology.
Keywords:ion implanter  mechanical scanning  batch implantation  single wafer implantation  parallel ion beam
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