GE推出具备<1μm细节分辨力的紧凑型300kV工业CT系统

今年GE检测科技推出了新型phoenix v|tome|x m。v|tome|x m是业内用于3D测量和故障分析的紧凑型300kV计算机断层扫描系统,具有<1μm的细节分辨力。该系统可为高吸收性金属样品提供出色的放大倍数和分辨率。管功率最高可达500 W,可在几分钟内完成包括轻金属铸件在内的多种工件的检验。