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| 极薄平板样品在K值法中的应用 | |
| 引用本文： | 李华瑞,臧敏珠,左海燕,丁建国.极薄平板样品在K值法中的应用[J].物理测试,1985(3). |
| 作者姓名： | 李华瑞 臧敏珠 左海燕 丁建国 |
| 作者单位： | 北京钢铁学院，北京钢铁学院，北京钢铁学院，北京钢铁学院 |
| 摘 要： | 一、前言在X射线定量相分析工作中,通常要求样品的厚度应满足“无穷”厚的条件。这是因为在此条件下,应用衍射仪时衍射线强度的吸收因数与θ角无关并等于1/2微米,这就使得在推导定量相分析有关公式时,可以消除掉吸收因数的影响。而在一般情况下,吸收因数是难以准确求出的。在冶金样品的物相分析工作中,常会遇到样品数量很少的情况,我们曾指出,在联用自动可调光栏的条件下,采用极薄平板样品是可能的。文献介绍了直接对比法的应用,但目前K值法采用得更为广 |
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