| 可编程逻辑器件在存储器辐射效应测试系统中的应用 |
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| 引用本文： | 李永宏,贺朝会,杨海亮,何宝平.可编程逻辑器件在存储器辐射效应测试系统中的应用[J].核电子学与探测技术,2005,25(5):559-562. |
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| 作者姓名： | 李永宏 贺朝会 杨海亮 何宝平 |
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| 作者单位： | 西北核技术研究所,西安市69信箱13分箱,710024 |
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| 摘 要： | 着重论述复杂可编程逻辑器件（CPLD）在电子线路设计中的应用，介绍了开发软件MAX＋pluses和可编程逻辑器件的使用。应用可编程逻辑器件EPM7128SLC84—15设计存储器辐射效应测试系统中的数据采集卡（ISA卡），实现了原测试系统的功能，减少了分立器件数量，提高了系统可靠性。
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| 关 键 词： | CPLD MAX＋plusⅡ ISA卡 辐射效应 |
| 文章编号： | 0258-0934(2005)05-0559-04 |
| 修稿时间： | 2004年4月17日 |
Application of complex programmable logic devices in memory radiation effects test system |
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| LI Yong-hong,HE Chao-hui,YANG Hai-liang,HE Bao-ping.Application of complex programmable logic devices in memory radiation effects test system[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2005,25(5):559-562. |
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| Authors: | LI Yong-hong HE Chao-hui YANG Hai-liang HE Bao-ping |
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