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多光谱成像
作者姓名:
高(编译)
摘 要:
美国专利US7420678 (2008年9月2日授权)对于某些应用来说,现有的成像系统并不是最佳的。例如,为了准确地测定一个物体(例如处于空间中的一个物体)的一种或多种材料特性,现有的系统可能会提供太多或者太少的图像信息。如果图像信息不足,就115
关 键 词:
多光谱成像
成像系统
材料特性
图像信息
图像处理
数据获取
高光谱
测定
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