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杂志ISSN号
纯元素标识x射线强度因子的电压依赖关系
作者姓名:
徐力
吴自勤
作者单位:
中国科大结构分析开放实验室,中国科大结构分析开放实验室
摘 要:
利用x射线能谱仪进行无标样定量分析时,经常使用纯元素的标识x射线强度因子。随着电子探针使用的加速电压向低电压方向发展(如分析硅上的含硅化合物)和低压扫描电镜的发展,有必要在广泛的加速电压范围对强度因子的计算进行检验。Russ提出的无标样定量分析中给出了计算强度因子的方法,吴自勤等利用修正
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