| 关于晶体旋转法测定液晶分子预倾角适用性的分析 |
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| 引用本文： | 范志新 白晓平. 关于晶体旋转法测定液晶分子预倾角适用性的分析[J]. 液晶与显示, 1996, 11(4): 260-267 |
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| 作者姓名： | 范志新 白晓平 |
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| 作者单位： | 河北工业大学应用数理系，冀雅电子有限公司 |
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| 摘 要： | 本文从晶体旋转法测定液晶分子预倾角的ｏ光和ｅ光的位相差表达式出发，详细分析晶体旋转法液晶预倾角测试仪对液晶层厚的适用范围，并指出对于厚度为５～９μｍ液晶层预倾角的测量应采用波长约为４００ｎｍ的光源。
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| 关 键 词： | 晶体旋转法，液晶，预倾角，位相差 |
SUITABLE ANALYSIS OF THE METHOD OF CRYSTAL ROTATION TO MEASURE LC PRETILT ANGLE |
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| Fan Zhixin, Yang Guochen, Zhang Zhidong. SUITABLE ANALYSIS OF THE METHOD OF CRYSTAL ROTATION TO MEASURE LC PRETILT ANGLE[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 1996, 11(4): 260-267 |
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| Authors: | Fan Zhixin Yang Guochen Zhang Zhidong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | the method of crystal rotatian liquid crystal pretilt angle the phase retardation |
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