| TGC信号放大成形甄别板批量检测系统 |
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| 引用本文： | 金革,杨涛,彭承志,虞孝麒.TGC信号放大成形甄别板批量检测系统[J].核电子学与探测技术,2002,22(2):126-128. |
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| 作者姓名： | 金革 杨涛 彭承志 虞孝麒 |
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| 作者单位： | 中国科学技术大学近代物理系,安徽合肥,230027 |
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| 摘 要： | 介绍一个为批量检测ASD板而设计的检测系统，详细叙述了检测系统的构成，测试原理以及测试结果。
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| 关 键 词： | 检测系统 ASD板 增益 信号放大成形甄别板 TGC 薄气隙室探测器 批量检测 |
| 文章编号： | 0258-0934(2002)02-0126-03 |
| 修稿时间： | 2000年12月9日 |
The mass inspection system for TGC ASD boards |
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| JIN Ge,YANG Tao,PENG Cheng zhi,YU Xiao qi.The mass inspection system for TGC ASD boards[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2002,22(2):126-128. |
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| Authors: | JIN Ge YANG Tao PENG Cheng zhi YU Xiao qi |
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| Abstract: | In this paper a mass inspection system for ASD boards was introduced. The structure of inspection system and the principle of the measurement were described in detail. |
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| Keywords: | inspection system ASD gain test pulse |
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