| 多次重触发技术的研究 |
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| 引用本文： | 李新娥,原彦飞.多次重触发技术的研究[J].测试技术学报,1999,13(3):136-140. |
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| 作者姓名： | 李新娥 原彦飞 |
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| 作者单位： | 华北工学院,电子工程系,山西,太原,030051 |
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| 摘 要： | 多次重触发技术在存储测试系统中的应用,是针对引信运输安全模拟实验的多次磕碰冲击测试以及齿轮轮齿多次啮合过程弯曲应力而提出的.对每次重触发记录的起始地址进行锁存,以便读数时直接找到该次记录的真实起点,无须利用程序调整.该研究对重触发技术在存储测试系统中的应用具有重要意义.
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| 关 键 词： | 存储器 重触发 测量系统 |
| 修稿时间： | 1999年5月24日 |
STUDY ON THE MULTI-RETRIGGER TECHNOLOGY |
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| Li Xine,Yuan Yanfei.STUDY ON THE MULTI-RETRIGGER TECHNOLOGY[J].Journal of Test and Measurement Techol,1999,13(3):136-140. |
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| Authors: | Li Xine Yuan Yanfei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | memory retrigger measurement system |
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