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| 一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法 | |
| 作者姓名： | 崔小乐 李 红 史新明 等 |
| 作者单位： | 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室;中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所; |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(61006032);广东省自然科学基金资助项目(S2011010001234);深圳市科技计划资助项目(JCYC20120614145742639,ZYC201105170354A) |
| 摘 要： | 在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG方法获取较小的备选测试矢量集合.基于门电路的故障相关输入状态,设计了一种度量指标,可用于辅助在备选测试矢量集合中搜索目标矢量.该度量指标与电路漏电功耗总体上为正相关关系,可有效降低误选测试矢量的风险. |
| 关 键 词： | 静态老化 测试矢量 漏电功耗 故障模型 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |