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GaAs MESFET栅的取向效应——Ⅱ.实验
引用本文:黄庆安,童勤义,吕世骥.GaAs MESFET栅的取向效应——Ⅱ.实验[J].半导体学报,1992,13(5):274-278.
作者姓名:黄庆安  童勤义  吕世骥
作者单位:东南大学微电子中心 南京210018 (黄庆安,童勤义),东南大学微电子中心 南京210018(吕世骥)
摘    要:研究了(100)GaAs衬底上,离子注入自对准 WSi_x栅 GaAs MESFET的阈值电压漂移与栅长和取向的关系。当栅长小于2μm时,栅不同取向的阈值电压差别很大.本文同样将解析模型与已有的(111)GaAs衬底的实验进行了比较.结果表明解析模型与实验符合较好.

关 键 词:MESFET栅  取向效应  GaAs衬底
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