| 电荷耦合器件调制传递函数测试方法的研究 |
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| 引用本文： | 李炜. 电荷耦合器件调制传递函数测试方法的研究[J]. 光学精密工程, 1993, 1(5): 146-148 |
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| 作者姓名： | 李炜 |
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| 作者单位： | 中国科学院长春光学精密机械研究所 长春130022 |
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| 摘 要： | 本文在理论上系统阐述了用调制传递函数方法评价电荷耦合器件性能的可行性,分析讨论了电荷耦合器件调制传递函数的构成,系统研究了电荷耦合器件调制传递函数的测试方法。本文提出了测量方案,并详细介绍了系统的构成及软件设计,最后给出了测量结果。
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| 关 键 词： | 电荷耦合器件 调制传递函数 测试 研究 |
| 收稿时间： | 1993-11-20 |
A Study of Charge-Coupled-Device MTF Testing Method |
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| Li Wei. A Study of Charge-Coupled-Device MTF Testing Method[J]. Optics and Precision Engineering, 1993, 1(5): 146-148 |
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| Authors: | Li Wei |
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| Affiliation: | Changchun Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Changchun, 130022 |
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| Abstract: | This paper analysises and discusses the probability to evaluate the character of CCD by the concept of MTF in theory, and gives the requirement to evaluate CCD by MTF; then this paper carefully discusses the method to evaluate the MTF of CCD, and gives the testing methol; in the end ,this paper gives the testing result and conclusion. |
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| Keywords: | CCD MTF Measurement Study |
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