|
|||||
|
|
| NOR型FLASH存储器测试技术 | |
| 作者单位： | ;1.中国电子科技集团公司第58研究所 |
| 摘 要： | NOR型FLASH存储器因其能够长久地保持数据的非易失性(Non-Volatile)特点,被广泛用作各类便携型数字设备的存储介质,但由于此类器件的编程及擦写均需写入特定指令,以启动内置编程/擦除算法,从而使得采用自动测试系统对其进行测试也具有较高难度。因此,研究NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以AMD公司的AM29LV160DT为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX系统的DSIO模块动态生成测试矢量的方法,从而能够更为简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。 |
The Research of Testing Technology for Flash Memory of NOR Type |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | NOR型FLASH DSIO |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |