概伦电子举行2010年技术研讨会分享下一代IC设计建模与设计验证方案

概伦电子科技有限公司（ProPlus）近日举办了主题为“如何设计有竞争力的高性能Ic：纳米时代的建模与验证挑战”的技术研讨会。来自集成电路制造企业、Ic设计公司、高校与研究机构等百余位来宾出席了研讨会，共同分享了概伦电子有关下一代集成电路设计挑战的精彩见解，以及高阶工艺下Ic设计中的建模、仿真与验证的解决方案。