摘 要: | 本文给出JT-60U由敝开型偏滤器改装成W型抽运偏滤器后,用吹入氖气的方法研究杂质行为的偏滤器辐射实验,为了估计氖的辐射,在偏滤器等离子体中,用一台真空紫外光谱仪对测量的氖离子辐射谱线进行了分析。因此,鉴定了从NeⅣ和NeⅧ的谱线。用绝对标定的多道干涉滤光片分光计结合真空紫外光谱仪来进行测量,对偏滤器等离子体氖线发射的辐射损失进行了估计。在没有抽运的情况下,脱离等离子体发展边缘的多面非对称辐射(MARFE)。还观测到,高离化氖谱线(NeⅣ、NeⅧ)的辐射强度随MARFE的形成而同时增加,MARFE形成之后仍继续增大,我们认为偏滤器等离子体脱离之后,在没有抽运比有抽运时等离子体流速和摩擦力都弱,更多的杂质流向X点区域,这些观察表明因为粘滞力的减小,杂质从偏滤器上游回流。
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