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RFID中间件基准性能测试平台研究与设计
引用本文:赵科侠,TAN Jie,季刚. RFID中间件基准性能测试平台研究与设计[J]. 微计算机信息, 2008, 24(23)
作者姓名:赵科侠  TAN Jie  季刚
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:RFID中间件作为RFID技术应用的神经中枢,其性能的优劣直接影响整个RFID系统的性能.本文针对RFID中间件的特点,提出了一套衡量RFID中间件基准性能的参数及其测试方法,并介绍了在此基础上的自动化测试平台软件的设计.

关 键 词:中间件  基准性能  软件测试

Study and Design of Benchmarking Test Platform for RFID Middleware
ZHAO Ke-xia,TAN Jie,JI Gang. Study and Design of Benchmarking Test Platform for RFID Middleware[J]. Control & Automation, 2008, 24(23)
Authors:ZHAO Ke-xia  TAN Jie  JI Gang
Abstract:
Keywords:RFID
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