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X射线荧光光谱法测定石膏主、次化学成分
引用本文:张志坚,陈建良,李军. X射线荧光光谱法测定石膏主、次化学成分[J]. 玻璃纤维, 2015, 0(2): 22-28
作者姓名:张志坚  陈建良  李军
作者单位:巨石集团有限公司,桐乡,314500
摘    要:使用压片法与熔片法对石膏的化学成分进行检测,对比后确定采用熔片法制样。以混合熔剂(Li2B4O7∶Li BO2=12∶22)作熔剂制备石膏熔融片,用波长色散X射线荧光光谱仪测定石膏中的Al2O3、Ca O、Mg O、Si O2、Fe2O3、SO3、K2O。该法测量准确度、精密度较好,所得结果可与化学分析结果接近。

关 键 词:X射线荧光光谱仪  石膏  化学成分

Determination of Major and Minor Ingredients in Gypsum by X-ray Fluorescence Spectrometry
ZHANG Zhijian,CHEN Jianliang,LI Jun. Determination of Major and Minor Ingredients in Gypsum by X-ray Fluorescence Spectrometry[J]. Fiber Glass, 2015, 0(2): 22-28
Authors:ZHANG Zhijian  CHEN Jianliang  LI Jun
Affiliation:ZHANG Zhijian;CHEN Jianliang;LI Jun;Jushi Group Co. ,Ltd;
Abstract:
Keywords:
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