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微米级X-ray断层扫描技术在TiAl铸件无损检测中的应用
引用本文:楼江燕,楼华山.微米级X-ray断层扫描技术在TiAl铸件无损检测中的应用[J].广西工学院学报,2015(2).
作者姓名:楼江燕  楼华山
作者单位:1. 广西科技大学 汽车工程学院,广西 柳州,545006
2. 柳州职业技术学院,广西 柳州,545006
基金项目:广西工学院博士基金(院科博09305);广西自然科学基金
摘    要:研究采用MU2000 X射线仪对Ti6Al4V合金的铸造工艺进行了研究.通过逐级放大倍率法对Ti6Al4V合金铸件的内部进行微观检测,X射线断层成像图片表明:铸件内部大部分区域呈现灰色,该灰色部位代表着铸件致密的结构,证明浇注工艺及型壳结构设计的合理性;同时,还观察到铸件内部存在气孔、缩孔和熔接痕缺陷.经分析认为:浇注温度、型壳预热温度偏低是导致产生气孔、缩孔缺陷的主要原因,而熔接痕缺陷则与浇注系统设计的不合理相关.

关 键 词:微米级-X射线断层检测  断层成像照片  图像增强器  铸件

The application of micron level X-ray tomography in non-destructive test of TiAl casting
LOU Jiang-yan,LOU Hua-shan.The application of micron level X-ray tomography in non-destructive test of TiAl casting[J].Journal of Guangxi University of Technology,2015(2).
Authors:LOU Jiang-yan  LOU Hua-shan
Abstract:
Keywords:micron level X-ray fault detection  tomography  image intensifier  casting
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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