电子产品EMC测试失效问题探析及对策 |
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引用本文: | 黄曼雪. 电子产品EMC测试失效问题探析及对策[J]. 安全与电磁兼容, 2013, 0(3): 92-95 |
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作者姓名: | 黄曼雪 |
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作者单位: | 深圳市标准技术研究院 |
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摘 要: | 针对电子产品EMC初始设计失效的原因,从EMC法规、电磁兼容环境、产品的EMC设计三个主要方面以及产品EMC设计的流程规范、符合性设计、预符合性测试三个子维度阐述关键考量点,并给出了相应的解决对策与建议,期望能帮助电子产品设计人员和制造商解决产品开发过程中遇到的实际问题,提高产品设计成功率,加快产品上市时间。
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关 键 词: | 电子产品 电磁兼容 初始失效 |
Exploration and Solutions of EMC Testing Failure of Electronic Products |
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