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高性能1024单元开关电容P沟道绝缘栅场效应晶体管存储器芯片的设计
引用本文:H.J Boll,william T.Lynch,沈沧海.高性能1024单元开关电容P沟道绝缘栅场效应晶体管存储器芯片的设计[J].计算机研究与发展,1974(6).
作者姓名:H.J Boll  william T.Lynch  沈沧海
摘    要:本文介绍由绝缘栅场效应晶体管(IGFET)开关电容存储单元组成一个全动态译码、1024字×1位的P沟道随机存储器。采用10伏的驱动电路,测得芯片取数时间为150 ns,周期时间为300ns。当周期为300ns时测得通导芯片的功耗低于80毫瓦(80微瓦/单元),而在较低速度时其功耗更小。它在100℃时恢复功率低于1微瓦/单元。在准平衡设计中,两个16行×32列存储单元矩阵由选通触发器的电荷敏感器及读写电路所膈离。存取一个矩阵中的一行单元及采用另一不工作的矩阵去平衡共式信号并允许通导芯片可靠鉴别存储电荷。到敏感器的标称输入信号估计为±2V。可以快速关闭且也考虑到单元电荷的变化和触发器阀值的不平衡。平衡读写电路可从芯片取出读出信号进行差动鉴别。译码电路使用单线二进制地址输入使通导芯片的动态地址反向。制造工艺采用具有离子注入源、漏和沟道夹断的P沟道自对准栅。采用两层钨金属化系统,它具有磷玻璃和氮化硅及非电镀金梁式引线。设计和加工结果得到了小单元面积(用10微米的设计规则,面积低于5密耳~2),每单元仅半个结点,由于第二层金属清晰度仅用四道光刻步骤就可得到高成品率,阀值电压的相对不灵敏性变化为±(1/2)伏,以及取数和周期时间短,工作压降低(10伏)及功耗低。该存储器芯片已完成了设计、制造和测试。其芯片由1024个开关电容存储单元组成,与取数电路有关的包括有地址译码、选通触发器鉴别恢复及读写电路。设计的主要目的在于高速、低功耗、宽工作容限和制造方便。为满足这些目的而采用了准平衡设计、动态译码电路和相当大的光刻容差。

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