数字电路测试实验系统设计探讨

为了满足数字电路故障诊断的测试需求,根据边界扫描测试标准IEEE1149.1设计了数字电路测试主控系统。系统以FPGA为控制核心,利用计算机的USB总线控制JTAG总线,实现对被测数字电路的测试。该系统能控制四路JTAG总线,且引入了FIFO以提高边界扫描的测试速度。对FIFO、USB总线及JTAG总线的控制等均在一片FPGA中实现,硬件结构简单,体积小。实验证明,用该系统可对支持IEEE1149.1标准的数字电路的状态进行控制和捕获,能方便高效地完成对数字电路的测试。