国外碲镉汞红外焦平面杜瓦组件可靠性研究进展 |
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作者姓名: | 王蕴辉 |
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作者单位: | 信息产业部电子第5研究所!广州,510610,信息产业部电子第5研究所!广州,510610 |
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摘 要: | 本文介绍和总结了国外碲镉汞红外焦平面组件在可靠性方面的一些研究思路和方法。对组件失效模式的充分暴露和分析,有针对性地对主要失效模式进行可靠性试验,通过试验数据和用户使用数据的综合统计来评估组件的可靠性是目前国外碲镉汞红外焦平面组件可靠性研究的主要思路。
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关 键 词: | 红外 平面组件 可靠性 红外热像仪 杜瓦组件 |
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